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皆川 宣明; 盛合 敦; 森井 幸生; 斎藤 徹*
日本材料学会第37回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集, p.220 - 222, 2001/00
中性子回折法によるひずみ測定では=d/d=(d-d)/dによりひずみが求められる。無ひずみ状態における格子面間隔dは材料を熱処理や粉末化して測定を行うが、手間と時間を必要とする。われわれは、一般構造材が、アルミ,鉄をベースとした正方晶系に着目し、ランダムな回転をさせながら中性子回折測定を行うことにより、d(hkl)を行う連続軸回転ゴニオメーターを製作し測定を試みた。その結果、A7075材を粉末化したものを中性子回折法及びX線回折法で測定し得られた格子定数aと開発ゴニオメーターにより測定した結果が10nmで一致し、実用になることを立証できたので報告する。